日本ourstex熒光X射線分析儀OURSTEX 160

產(chǎn)品型號：

所屬分類：其他設(shè)備

產(chǎn)品時(shí)間：2024-09-10

簡要描述：日本ourstex熒光X射線分析儀OURSTEX 160
OURSTEX 160型被?選為東京都政du于2006年3月執(zhí)行的《環(huán)境安全條例》中用于土壤污染調(diào)查（重金屬等）的簡單快速分析技術(shù)（簡單分析方法）。

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日本ourstex熒光X射線分析儀OURSTEX 160

OURSTEX 160型被?選為東京都政fu于2006年3月執(zhí)行的《環(huán)境安全條例》中用于土壤污染調(diào)查（重金屬等）的簡單快速分析技術(shù)（簡單分析方法）。

　■用于工廠現(xiàn)場的土壤分析... 　●可以進(jìn)行無損且快速的成分分析?！　窬o湊輕巧，因此可以進(jìn)行現(xiàn)場分析?！　裉岣吡酸槍χ校亟饘僭氐撵`敏度。　●Utility僅適用于AC100V-5A。　●設(shè)備內(nèi)部是受控區(qū)域。

元素技術(shù)的結(jié)晶/高靈敏度和高精度

能量色散X射線熒光分析儀用來自X射線管的原始X射線輻照樣品，并使用半導(dǎo)體檢測器測量產(chǎn)生的X射線熒光，因此無論樣品的形狀如何，它都是非破壞性的元素定性的。樣品。?進(jìn)行定量分析。
半導(dǎo)體檢測器使用不需要液氮冷卻的電子冷卻的硅漂移檢測器（SDD），并且可以與數(shù)字計(jì)數(shù)電路（DSP）結(jié)合使用以測量高分辨率和高計(jì)數(shù)率。
為了提高分析性能，準(zhǔn)備了可以使能量分辨率和半導(dǎo)體檢測器的計(jì)數(shù)靈敏度z大化的激發(fā)光學(xué)系統(tǒng)的條件。

應(yīng)用實(shí)例

• 同時(shí)分析碘化銫（CsI）化合物中的碘（I）和銫（Cs）
• 焚燒灰分的分析實(shí)例
• 水泥分析實(shí)例
• 采石場的土石，沙礫和碎石現(xiàn)場分析示例
• 鋁合金中鎂的測量示例（每種類型）
• 農(nóng)yao污染土壤的分析
• 工業(yè)廢物分析
• 土壤中有害重金屬元素的分析
• 石油中的硫分析
• 新型固體燃料RPF分析

日本ourstex熒光X射線分析儀OURSTEX 160

OURSTEX 160規(guī)格